Проведена оценка рабочей области и диапазона измерений разрабатываемой для установки Т-15МД диагностики “Рефлектометрия для измерения профиля электронной плотности”. Рассматриваются актуальные измерения в конструкции диагностики, приводятся параметры узлов диагностики, оценивается ожидаемое соотношение сигнал-шум. В заключении приводится оценка максимального уровня флуктуаций плотности, при котором диагностика сохраняет свою работоспособность и его сравнение с результатами измерений на других установках. Работа представляет интерес для специалистов, участвующих в разработке микроволновых диагностик для термоядерных установок.
Индексирование
Scopus
Crossref
Высшая аттестационная комиссия
При Министерстве образования и науки Российской Федерации